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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:GALVANOTEST 2000庫侖電鍍層測厚儀

  • 產(chǎn)品型號: GALVANOTEST 2000
  • 產(chǎn)品廠商:其它品牌
  • 產(chǎn)品價格:0
  • 折扣價格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
GALVANOTEST 2000庫侖電鍍層測厚儀利用庫侖電量分析原理,測量鍍層、多層鍍層。符合*標準:DIN EN ISO 2177。
詳情介紹:
GALVANOTEST 2000庫侖電鍍層測厚儀利用庫侖電量分析原理,測量鍍層、多層鍍層。符合*標準:DIN EN ISO 2177。

GALVANOTEST 可以測量

2000

3000

可以測量70種以上鍍層/基體組合

可以測量平面、曲面上的鍍層

可以測量小零件、導(dǎo)線、線狀零件

預(yù)置10種金屬的測量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金(需提供樣品確定)

 

預(yù)置9種金屬的測量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。

 

用戶可另設(shè)置8種金屬的測量參數(shù)

 

用戶可另設(shè)置1種金屬的測量參數(shù)

 

測量機構(gòu):

 

 

帶循環(huán)泵

 

帶氣泵

 

測量面積:

 

 

密封墊 8 mm2

 

密封墊 4 mm2

密封片 1 mm2

密封片 0.25 mm2(涂鍍層面積幾乎小得看不見)

 

電解杯 0.25-16 mm2 (可選件)

測量參數(shù)*優(yōu)化調(diào)整:

 

 

除鍍速度0.3-40 μm/分鐘可調(diào)

根據(jù)金屬和測量表面可直接調(diào)整系數(shù)

可用厚度標準樣板校準

可調(diào)整終點電壓,以抗干擾,適應(yīng)鍍層/基體之間的合金

GALVANOTEST的數(shù)據(jù)存儲

 

 

可存儲不同金屬測量參數(shù)的數(shù)目

10

18

可存儲的讀數(shù)和統(tǒng)計值

2000

2000

儀器斷電后可保持**校準值、讀數(shù)、統(tǒng)計值。

統(tǒng)計計算:

 

 

顯示6種統(tǒng)計值:均值、標準偏差、變異系數(shù)、*大、*小值、讀數(shù)個數(shù)

立即或稍后顯示統(tǒng)計值

立即或稍后打印讀數(shù)和統(tǒng)計值

 

顯示、打印年、月、日、時、分

用于外設(shè)的計算機接口:

 

 

MINIPRINT 微型打印機接口

RS-232,PC計算機接口

連接x-t計錄儀模擬電壓輸出接口

電解液飽和報警指示

 

測量的不確定性:

 

 

5%,在8mm2面積下,經(jīng)校準

電源:

 

 

110/220V,50/60HZ,10W

測量范圍:

 

 

*大測量范圍:0.05-75μm