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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:DUALSCOPE FMP40涂層測厚儀

  • 產(chǎn)品型號:FMP40
  • 產(chǎn)品廠商:德國菲希爾Fischer
  • 產(chǎn)品價(jià)格:1
  • 折扣價(jià)格:1
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
DUALSCOPE FMP40涂層測厚儀是一款操作簡便的鍍層厚度測量和靈活的數(shù)據(jù)采集設(shè)備。DUALSCOPE FMP40膜厚儀存儲容量多達(dá)1,000數(shù)據(jù)組的10,000個(gè)測量數(shù)據(jù),帶動(dòng)態(tài)存儲分配能力。100個(gè)測量應(yīng)用的內(nèi)存可用于存儲校準(zhǔn)和相關(guān)的測量數(shù)據(jù)。
詳情介紹:
DUALSCOPE FMP40涂層測厚儀是一款操作簡便的鍍層厚度測量和靈活的數(shù)據(jù)采集設(shè)備。DUALSCOPE FMP40膜厚儀存儲容量多達(dá)1,000數(shù)據(jù)組的10,000個(gè)測量數(shù)據(jù),帶動(dòng)態(tài)存儲分配能力。100個(gè)測量應(yīng)用的內(nèi)存可用于存儲校準(zhǔn)和相關(guān)的測量數(shù)據(jù)。

DUALSCOPE FMP40漆膜測厚儀使用Fischer的智慧型測量探頭ED10MP40會(huì)自動(dòng)檢測出基體的材料并應(yīng)用合適的測試方法:渦流法或電磁感應(yīng)法。能自動(dòng)識別不同的探頭。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲存在測量探頭中,因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測量。

    DUALSCOPE FMP40測厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2360,ASTM B244標(biāo)準(zhǔn)的電渦流方法和DIN EN ISO 2178,ASTM B499電磁感應(yīng)方法。理想的適合于測量:

  • 非鐵金屬鍍層(例如:鉻,銅,鋅等)在鐵或鋼上。
  • 油漆、臘克和合成涂層在在鐵或鋼上。
  • 非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上,例如油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上。
  • 鋁的陽極氧化層。
  • 一步測量鋼材上鍍鋅再鍍油漆的鍍層系統(tǒng)(雙鍍層)中各自的厚度。

    德國菲希爾 DUALSCOPE FMP40涂層測厚儀 技術(shù)參數(shù)

     

    涂層測厚儀型號DUALSCOPE FMP20DUALSCOPE FMP40
    非鐵金屬上的油漆、陽極氧化層、瓷漆或塑料涂層可以可以
    鋁上的陽極氧化層可以可以
    鋼或鐵上的儀器、 瓷漆或塑料涂層可以可以
    鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層可以可以
    數(shù)據(jù)儲存可以可以
    統(tǒng)計(jì)計(jì)算可以可以
    打印口/RS232 接口可以可以
    無線傳輸可以
    可更換插入式智慧型探頭可以可以
    集成恒壓探頭
    測量范圍(μm) [mils]取決于探頭取決于探頭
    電源電池交流電或電池
    重量[g]230230
    規(guī)格 (高 x 寬 x 深 mm) [高 x 寬 x 深 ']160 x 80 x 30
    [4.25 x 2.6 x 1.2]
    160 x 80 x 30
    [4.25 x 2.6 x 1.2]

    DUALSCOPE FMP40涂層測厚儀探頭:
    常用磁性非磁性雙功能探頭:FD10,訂貨號:604-143,測量范圍:磁性:0-1300 μm,渦流,0-800 μm
    常用渦流探頭:FTA3.3H,訂貨號:604-142,測量范圍:0 - 1200 μm
    常用磁性探頭:FGAB1.3,訂貨號:604-141,測量范圍:0 - 2000 μm
    The new DUALSCOPE® FMP40 as a part of the FMP30-40 series is even more versatile than the standard models.

    These instruments integrate additional features such as more memory for up to 100 applications as well as extensive statistical and graphical evaluations.

    Tolerance limits can be entered into the calibratable applications and the production process can be analyzed statistically. The default mode can be switched to matrix mode for connected multipoint measurements.

    These are only a few of the many features described below.